Основные атрибуты  химическое свойство Информация о безопасности химические свойства, назначение, производство поставщик Обзор
 структурированное изображение

BUFFER SOLUTION

  • русский язык имя
  • английское имяBUFFER SOLUTION
  • CAS №53744-42-6
  • CBNumberCB9340936
  • ФормулаC24H17N2NaO6S2
  • мольный вес516.52
  • EINECS258-740-7
  • номер MDLMFCD00038854
  • файл Mol53744-42-6.mol
химическое свойство
Температура плавления 300 °C
плотность 1.006 g/mL at 20 °C
плотность пара 4.9 (vs air)
температура хранения Inert atmosphere,Room Temperature
растворимость H2O: soluble
форма Liquid
цвет No Color
РН 6.8 (20°C in H2O)
Пределы воздействия ACGIH: TWA 2.5 mg/m3
NIOSH: IDLH 250 mg/m3; TWA 2.5 mg/m3
Система регистрации веществ EPA Benzenesulfonic acid, 4,4'-(1,10-phenanthroline-4,7-diyl)bis-, disodium salt (53744-42-6)
UNSPSC Code 41116121
NACRES NA.23
Заявления об опасности и безопасности
Коды опасности Xi,C
Заявления о рисках 36/38-36/37/38-36-52/53-35-67
Заявления о безопасности 26-36-24/25-37/39-61-45-36/37/39
РИДАДР UN2817
WGK Германия 3
F 8-10
кода HS 2933.99.8210
Класс опасности 8
Группа упаковки III
NFPA 704:
0
4 1

рисовальное письмо(GHS)

  • рисовальное письмо(GHS)

    GHS hazard pictograms

  • сигнальный язык

    предупреждение

  • вредная бумага

    H315:При попадании на кожу вызывает раздражение.

    H319:При попадании в глаза вызывает выраженное раздражение.

    H335:Может вызывать раздражение верхних дыхательных путей.

  • оператор предупредительных мер

    P261:Избегать вдыхания пыли/ дыма/ газа/ тумана/ паров/ аэрозолей.

    P305+P351+P338:ПРИ ПОПАДАНИИ В ГЛАЗА: Осторожно промыть глаза водой в течение нескольких минут. Снять контактные линзы, если Вы ими пользуетесь и если это легко сделать. Продолжить промывание глаз.

BUFFER SOLUTION химические свойства, назначение, производство

Использование

Used for pretreatment of planar silicon devices when plating with Nickel plating solution products 44069 and 44070.

Общее описание

Improved HF Buffer System with stabilized HF activity - selective solvent for SiO2 used in semiconductor technology of planar passivated devices - transistors, integrated circuits, diodes, rectifiers, SCR, MOS, FET

Advantages:

  • Ready-to-use - Economical
  • HF activity buffer stabilized
  • Excellent process reproducibility
  • Does not undercut masked oxide
  • Will not stain diffused silicon surfaces
  • Avoids contamination on silicon surfaces
  • Photoresist coating unaffected

Buffer HF improved is an idealized buffer preparation characterized by a high buffer index and an optimized, uniform oxide-etch rate. The composition of buffer HF improved is precisely controlled by HF activity measurements and electrometric pH. The mass balance corresponds essentially to (HF) + (F) + 2(HF2) for a two-ligand mononuclear complex and the charge balance is (H+) - (F) + (HF2- ). The HF activity is maintained constant through the specific equilibrium constant which regulates the equilibrium reaction between fluoride, bifluoride, and HF buffer components. A second equilibrium constant participates in the regulation of the hydronium in concentration of pH.

Buffer HF improved is produced and analyzed to be essentially free of impurities. Nitrate ions, a common impurity causing stains on diffused silicon surfaces, are specifically removed. Heavy metal impurities, which can lead to degradation of device characteristics, are rigidly controlled under manufacturing process specifications.

BUFFER SOLUTION поставщик

поставщик телефон страна номенклатура продукции благоприятные условия
+86-755-89396905
+86-15013857715
China 10453 58
+1-858-6993322 United States 18526 58
+86-024-23769576
+86-15040101888
China 254 58
+86-0371-86658258
+8613203830695
China 30233 58
+8615255079626 China 23541 58
+86-29-89586680
+86-15129568250
China 22787 58
+undefined18013301590 China 2450 58
+86-0512-83500002
+8615195660023
China 23046 58
+86-18621343501;
+undefined18621343501
China 33338 58
+undefined18143011203 China 42056 58