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非接触式晶圆厚度测量仪 MX 301-Q
非接触式晶圆厚度测量仪 MX 301-Q
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非接触式晶圆厚度测量仪 MX 301-Q
Contactless Wafer Thickness Gauge
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上海 更新日期：2026-01-05
产品详情:
- 中文名称：
- 非接触式晶圆厚度测量仪 MX 301-Q
- 英文名称：
- Contactless Wafer Thickness Gauge
- 品牌：
- E+H
- 产地：
- 德国
- 产品类别：
- 晶圆厚度测量仪
- 工作电压：
- 100-240V
- 测量精度：
- ±0.5μm
- 型号：
- MX 301-Q
- 加工定制：
- 是
- 测量范围：
- 450-750μm
- 电源：
- 单相/三相
- 分辨率：
- 0.1μm
- 电源电压：
- 100-240V
- 规格：
- 台
公司简介
那诺中国有限公司是一家高科技技术服务公司，专注于为大中华区域（包括中国大陆、香港、澳门和台湾）的高校、科研院所、企业研发与生产等企业机构提供基于飞行时间质谱仪的高性能科学仪器。
我们可以提供高性价比的定制化仪器 ，因为我们能够重复使用现有的设计模块，这些来源于我们庞大的、 有据可查的后台目录中。这些预先存在的机械信息，结合所需要的任何一次性工程，使我们能够根据客户的具体要求生产出价格合理的仪器。
我们的飞行时间二次离子质谱仪不仅适用于实验室实验，也适用于现场实时分析，在环境卫生、工业和生产、生物科学、材料科学、半导体、电子等行业均有广泛的应用。
| 成立日期 | (11年) |
| 注册资本 | 100万 |
| 员工人数 | 1-10人 |
| 年营业额 | ￥ 1000万-5000万 |
| 经营模式 | 贸易,工厂,定制,服务 |
| 主营行业 | 质谱,元素分析仪,环境水质/污水检测仪器,环境空气质量及废弃检测,表面/界面性能测定仪 |
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