Kore飞行时间二次离子质谱仪 TOF-SIMS

Kore SurfaceSeer S在TOF-SIMS （飞行时间二次离子质谱仪） 系 列中，是一款高性价比且经久耐用 的产品。它是研究样品表面化学成 分的理想选择，适用于研发和工业 质量控制应用。

二次离子质谱主要利用质谱法区分一次离子溅射样品表面后产生的二次离子，电离的二次粒子（溅射的原子、分子和原子团等）按质荷比实现质谱分离，可用来分析样品表面元素成分和分布。

Kore SurfaceSeer S使用的是5keV Cs+离子束（可选惰 性气体Ar+），该离子束是脉冲式的，以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤。 在每100µs TOF 循环中，该离子枪的脉冲时间仅为60ns，因此，主光束提供的电流比连续打开时少1000倍以上。典型的10s实验时间所产生的电流仅相当于几毫秒的连续光束电流。 要达到所谓的“静态SIMS”极限，需要在一个点上进行几分钟的分析，在这个点上，表面损伤在数据中变得清晰可见(取决于焦点和光 束电流)。尽管离子剂量较低，这款TOF分析仪还是非常高效的，这就说明了它具有较高的二次离子数据速率（即使在离子产率相对较低 的聚合物上，也通常为5000 c/s）。

SurfaceSeer S 仪器特点：

• 配备5keV Ar+/Cs+脉冲式离子束，以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤，实现样品“无损”分析；
  

• 针对工业领域的低成本TOF-SIMS仪器；

• 均适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析 ；

• 可在1~2min内实现高速率的正负质谱分析；

• 质量分辨率可达 >2,500 m/δm (FWHM)；

• 适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析。

SurfaceSeer S 应用领域:

• 表面化学

• 黏附力

• 分层

• 印刷适性

• 表面改性

• 等离子体处理

• 痕量分析（表面ppm）

• 催化剂

• 同位素分析

• 表面污染