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抹刀套件,适用于分析天平|Spatula Set Analytical|MettlerToledo/梅特勒-托利多

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北京 更新日期:2024-08-07

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属性信息

配件类型:
其他
产地:
进口

抹刀套件,适用于分析天平

精确的操作.

高质量药匙套件

优质附件,采用舒适、均匀的砝码。

提示量程

设计用于提高实验室的日常操作。
分析天平

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